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美國Carbide Probes SDTS-B1校準測試塊 技術參數

更新時間:2026-08-13   點擊次數:108次

美國CarbideProbes SDTS-B1校準測試塊,用于評估表面缺陷異常

Carbide Probes, Inc.成立于1963年,總部位于美國俄亥俄州代頓,所有產品均在自有工廠制造。公司特點是堅持小批量、定制化生產,能夠根據客戶的具體規格,提供經濟高效的定制解決方案。Carbide Probes, Inc.是一家歷史悠久的美國專業制造商,主要生產用于精密測量設備的碳化鎢和紅寶石測針,以其高品質和高精度在行業內著稱。

CarbideProbes產品詳解與應用

表盤/測試指示器測針:這是其基礎產品線,提供多種螺紋規格(如M1.7)和不同直徑、長度的硬質合金或紅寶石測球,用于替換和維護各種指示器。

CMM測針與附件:產品包括替換測針、紅寶石測球和各種角度的適配器,能滿足三坐標測量中復雜的探測需求。

電子量規測針:專為高精度電子量儀設計,確保測量的穩定性和重復性。

定制與特殊測針:公司優勢在于能生產碳纖維測針等特殊材質產品,并為非標應用提供定制服務

Carbide Probes表面缺陷測試試樣塊SDTS-B1

用于評估表面缺陷異常的校準測試塊;帶基座的硬化鋼塊;四個間隙寬度為0.0005英寸、0.001英寸、0.002英寸和0.003英寸;按圖紙規格制造

提供符合ISO 17025認可標準的長格式NIST可追溯校準證書,證書列出塊中每個間隙的實際測量寬度尺寸;塊上雕刻有匹配的NIST證書序列號;提供整個塊的不追溯一致性證書

(測試塊裝在保護性塑料儲存盒中)


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